在VR、AR眼鏡等高端光學器件的制造領域，偏振片、反射片以及Pancake分光鏡等核心組件的質量把控至關重要。其中，涂布厚度的均勻性、模切后的整體厚度與角度輪廓精度，直接決定了產品的最終光學性能與生產良率。然而，傳統檢測手段在應對這些精密光學膜層時，卻面臨多重挑戰。
以偏振片與反射片的生產為例，厚度均勻性是影響光學性能的核心因素。但現有檢測方式存在四大痛點：接觸式測量易劃傷膜層表面；高反光與透明層疊結構導致光學測量數據失真；多層復合結構使單層厚度分離困難；離線抽檢模式無法滿足高速產線全檢需求。這些難題長期制約著行業向更高精度、更高效率的方向發展。
針對上述困境，光子精密推出基于光譜共焦原理的高精度檢測方案，通過分析反射光波長實現距離換算，徹底擺脫傳統方法對光強變化的依賴。該技術尤其擅長處理鏡面、透明體等復雜材質，為光學薄膜檢測開辟了新路徑。其核心傳感器CD-5000系列具備六大技術優勢：亞微米級分辨率（0.025μm）可捕捉微米級厚度變化；單次掃描穿透5層透明介質；純光學探頭抗電磁干擾；無熱源設計確保溫度穩定性；260kHz采樣頻率支持實時監控；多探頭集成降低系統成本。微型化探頭設計更可適配狹窄安裝空間，滿足復雜產線需求。
在光學涂布工序中，CD-5000系列采用上下對射式布局，單次掃描即可同步獲取基材與涂層上下界面信號，無需雙面校準即可實時計算涂布厚度。其5μm的測量下限可精準監控納米級涂層變化，使質量監控從離線抽檢升級為在線全檢，從源頭杜絕涂層不均導致的批量不良。在模切與成型環節，該系統不僅能以亞微米精度測量成品總厚度，確保裝配間隙符合設計公差，更能以260kHz高速掃描形成海量高度數據，分析分光鏡等產品的傾斜、翹曲、平面度等關鍵角度參數。其60°最大可測傾角設計，即使在翹曲薄膜上也能保證測量點完整，數據真實可靠。
面對生產車間的電磁干擾、溫度波動與機械震動，CD-5000系列展現出卓越的環境適應性。純光學探頭可徹底屏蔽電磁干擾；無熱源設計與低熱膨脹系數材料將溫漂控制在極低水平；優異的抗震動性能確保測量數據長期穩定。這種穩定性有效避免了設備自身波動導致的誤判，為光學器件制造提供了可靠的質量保障。從涂布到模切，從厚度到角度，該檢測方案正推動行業向全流程、高精度、智能化的質量控制新階段邁進。
